變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀工作原理

     變頻抗干擾介質(zhì)損耗測試儀測量線(xiàn)路包括一路標準回路和一路被測回路,如圖3所示。標準回路由內置高穩定度的標準電容器與采樣電路組成，被試回路由被試品和采樣電路組成。由單片機運用計算機數字化實(shí)時(shí)采集方法，對數以萬(wàn)計的采樣數據處理后進(jìn)行矢量運算，分別測得標準回路電流與被試回路電流幅值及其相位關(guān)系，并由之算出試品的電容值（Cx）和介質(zhì)損耗角正切（tgδ），測量結果可靠?，F場(chǎng)有干擾時(shí)，先利用移相、倒相法減小干擾的影響，再將被試回路測得的電流Ix’與單獨測得的干擾電流Id矢量相加，得到真正的測量電流Ix，進(jìn)而得出正確的測量結果?？筛鶕煌臏y量對象和測量需要，靈活地采用多種接線(xiàn)方式。如測量非接地試品（正接法）時(shí)，“Lv”（E）點(diǎn)接地；而測量接地試品（反接法）時(shí)，則“Hv”點(diǎn)接地。